《電子測(cè)試》
《電子測(cè)試》ElectronicTest創(chuàng)刊于1994年,曾用刊名《微電子測(cè)試》,是經(jīng)中國新聞出版總署批準(zhǔn),由北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所主辦,北京市科學(xué)技術(shù)研究院主管,北京市工商局備案,國內(nèi)外公開發(fā)行的科技類核心期刊,通過郵局征訂,面向全國發(fā)行,國標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)刊號(hào):I
非官網(wǎng),僅供參考《電子測(cè)試》ElectronicTest創(chuàng)刊于1994年,曾用刊名《微電子測(cè)試》,是經(jīng)中國新聞出版總署批準(zhǔn),由北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所主辦,北京市科學(xué)技術(shù)研究院主管,北京市工商局備案,國內(nèi)外公開發(fā)行的科技類核心期刊,通過郵局征訂,面向全國發(fā)行,國標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)刊號(hào):I
非官網(wǎng),僅供參考《《電子測(cè)試》》
期刊級(jí)別:核心級(jí)期刊
國內(nèi)統(tǒng)一刊號(hào):CN11-3927/TN
國際標(biāo)準(zhǔn)刊號(hào):ISSN1000-8519
周期:月刊
主辦單位:北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所
主管單位:北京市科學(xué)技術(shù)研究院
轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明來自發(fā)表學(xué)術(shù)論文網(wǎng):http:///dzqk/654.html