電子電路的調試方法分析

　　這篇電子工程師論文發(fā)表了電子電路的調試方法分析，電子電路的調試分為幾步，論文對這幾步分別進行了分析，調試電子電路的方法主要有兩種，分別是分塊調試法和整體調試法。并總結了一些調試過程中需要注意的問題，避免因為儀器使用不當而做出錯誤的判斷。

　　關鍵詞：電子工程師論文,電子測試論文,電路設計論文

　　(1)線路檢查主要包括兩個方面：一是檢查線路連接是否正確，有無錯線、少線、多線，特別注意檢查電源、地線連接是否正確，可以通過對照設計電路圖進行核查，按照一定的順序逐級對應檢查，思路要清晰，避免漏查，可以在圖上將檢查過的線路進行標記。二是要注意一些元器件的連接是否正確，例如二極管和電解電容的極性是否接對，三極管和集成電路各引腳是否接對，還可以輕拔元器件，看焊點是否牢固等。

　　(2)通電觀察：將經過準確測量的電源電壓接入電路，但先不接入信號源，觀察電路是否出現(xiàn)一些異�，F(xiàn)象，比如冒煙、放電打火、聞到異味、輕觸元器件是否發(fā)燙等等，若有也切記不可驚慌，應該立即切斷電源，找出故障元器件，采用相關措施排除故障后再接入電源。然后再測試集成塊的電源引腳電壓值是否正常，確保電路可以正常通電。

　　(3)功能測試：先不接入信號源，對于模擬電路，主要測試電路的靜態(tài)工作點參數(shù)是否正常，比如放大器件能否正常工作在放大區(qū);對于數(shù)字電路，主要測試各門電路輸入、輸出端的電平電壓值是否正常，以及邏輯關系是否正常;對于運算放大器，除了檢查正、負電源外，還要檢查調零電路，能否消除零點漂移的影響。然后在電路輸入端接入適當頻率和幅度的信號源，可以通過雙蹤示波器觀察輸入、輸出信號的波形形狀、信號幅值、相位關系、頻率、放大增益等相關參數(shù)，逐級進行測試。

　　(4)指標測試：經過前幾個步驟的檢測，可以確定電路能夠正常工作，然后根據設計要求對相關技術指標進行測試。準確記錄測試數(shù)據，進行分析，得出結論，確定電路的技術參數(shù)是否合格，如果有需要，再進一步對電路參數(shù)做出合理的修正。

　　其次，調試方法主要有兩種：分塊調試法和整體調試法。

　　(1)分塊調試法：這種方法是把整體電路按照每部分的不同功能分成若干個模塊，然后對每個模塊的性能單獨進行調試。為了確保模塊分拆合理，調試順利，必須先熟悉電路工作原理，然后調試的時候最好按照信號的流向展開，一級一級的進行，逐步擴大調試范圍，最后將所有模塊的調試結果進行綜合測試，完成總調。另外，分塊調試可以是邊安裝邊調試，即每安裝完一個模塊就調試一個模塊，也可以將電路整體安裝完畢后，再進行分塊調試。分塊調試因為是在較小的模塊內進行，所以比較容易發(fā)現(xiàn)問題，也便于解決，因此，這種方法比較適合新設計的電路。

　　(2)整體調試法：這種方法是把電路整體安裝完畢后，進行一次性總調，不單獨分塊調試。它適合于結構比較簡單的電路，或者一些不能分塊調試的以及定型的產品。

　　最后，在調試過程中要注意的一些問題：

　　(1)在調試之前，應當先確定所用儀器的完好，并且熟悉它們的功能和使用方法，調試時應注意儀器的地線與被測試電路的地線是否連接好，避免因為儀器使用不當而做出錯誤的判斷。

　　(2)對于所使用的信號發(fā)生器、直流穩(wěn)壓電源、時鐘信號產生電路等等，要單獨進行調試，只有它們是可靠的才能保證電路的正常工作。

　　(3)調試發(fā)現(xiàn)問題需要更換元件，或者更改線路連接，切記一定要先切斷電源，雖然一些電源電壓值不足以對人體造成傷害，但不能保證連接過程中由于電路結構改變可能對元件造成的損害，要確定連接無誤后再接入電源。

　　電子電路的調試，是一個“測量→判斷→調整→再測量”反復進行的過程，最終實現(xiàn)設計的要求。在調試過程中難免會遇到一些難題，小則需要更改元件參數(shù)，更換元件，大則需要更改部分電路的設計甚至全部重新設計，而調試本身也是一個枯燥但又需要發(fā)散性思維的工作，因此要求調試人員首先要有足夠的耐心和信心，認真檢查，仔細分析，靈活的尋找解決方案，爭取用最合理的措施解決問題。當電路出現(xiàn)故障時，不要急于拆掉線路，或者輕易更換元器件，要仔細檢查故障原因，作出分析判斷，這個過程其實就是一個鍛煉分析和解決問題的機會，所以，重視電路的調試不僅僅是為了一個電路設計，更是設計能力的培養(yǎng)與提高。

　　本文作者：孫秀蓉 單位：蘭州交通大學博文學院電信工程系

　　推薦閱讀：《世界電子元器件》雜志是由信息產業(yè)部主管、全國發(fā)行的月刊。它權威報道并分析國內外電子元器件行業(yè)發(fā)展現(xiàn)狀及趨勢，提供半導體、元器件最新設計方案，集研發(fā)、應用和解決方案為一體，是了解世界電子元器件行業(yè)現(xiàn)狀及發(fā)展的重要信息窗口。

轉載請注明來自發(fā)表學術論文網：http:///dzlw/16097.html