本文摘要:摘要:本文通過針對(duì)絕緣電子測(cè)試儀的測(cè)試回路方法展開分析,繼而探討此種測(cè)試方法具體的應(yīng)用,鹽焗接地以及浮動(dòng)兩種測(cè)試回路的特點(diǎn)所在,以期能夠推進(jìn)絕緣電阻測(cè)試儀的測(cè)試回路技術(shù)的應(yīng)用,提供理論參考依據(jù)。 關(guān)鍵詞:絕緣電阻測(cè)試儀;測(cè)試回路 引言 絕緣診
摘要:本文通過針對(duì)絕緣電子測(cè)試儀的測(cè)試回路方法展開分析,繼而探討此種測(cè)試方法具體的應(yīng)用,鹽焗接地以及浮動(dòng)兩種測(cè)試回路的特點(diǎn)所在,以期能夠推進(jìn)絕緣電阻測(cè)試儀的測(cè)試回路技術(shù)的應(yīng)用,提供理論參考依據(jù)。
關(guān)鍵詞:絕緣電阻測(cè)試儀;測(cè)試回路
引言
絕緣診斷此種方法通常是對(duì)電氣設(shè)備絕緣缺陷,或者其中存在故障進(jìn)行診斷的重要手段。絕緣電阻測(cè)試儀是用來專門測(cè)量絕緣電阻的儀表設(shè)備。當(dāng)前變壓器以及發(fā)電機(jī)等電氣設(shè)備,也正在朝著容量大、電壓高、結(jié)構(gòu)多樣以及密封性的方向發(fā)展,因此絕緣電阻測(cè)試儀其本身就具備了較大的特點(diǎn),比如容量大、具備較強(qiáng)的抗干擾能力、并且整體的測(cè)量指標(biāo)較為多樣,測(cè)量所得的結(jié)果也較為準(zhǔn)確,在整體的測(cè)量過程中整個(gè)過程較為簡(jiǎn)單快速,并且便于攜帶;诖吮疚尼槍(duì)絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)試回路方法及應(yīng)用進(jìn)行探討,相信必然能夠?qū)υ摲矫嫦嚓P(guān)的內(nèi)容有所幫助。
1絕緣電阻測(cè)試儀相關(guān)概論及原理
1.1絕緣電阻測(cè)試儀具體運(yùn)行原理
通過根據(jù)當(dāng)前國(guó)際間制定的絕緣電阻測(cè)試相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),通常選用的電壓數(shù)值為直流500V或者1000V。從而完成對(duì)于被側(cè)量物體的性能測(cè)試,之后針對(duì)經(jīng)過絕緣電阻測(cè)試的所得參數(shù)進(jìn)行評(píng)估。絕緣電阻測(cè)試可以較為直觀,針對(duì)被測(cè)試物品來實(shí)現(xiàn)直接的數(shù)值量化,從而有效直觀的將產(chǎn)品的具體制作工藝,以及制作材料的選用均可以通過直觀的測(cè)試結(jié)果得以反應(yīng)。
在使用絕緣電阻測(cè)試儀完成測(cè)試的過程中,始終保持著一個(gè)測(cè)試原則,就是絕緣電阻的測(cè)試結(jié)果大小是隨著絕緣電阻的整體電阻數(shù)值變更從而轉(zhuǎn)變的。但是此種測(cè)試方法在使用過程中也是存在了一定的缺陷的,比如此種測(cè)試方法的使用通常會(huì)由于測(cè)試結(jié)果多次重復(fù),從而導(dǎo)致電阻測(cè)試數(shù)值越高。通常在使用此種設(shè)備完成絕緣電阻的測(cè)試時(shí),會(huì)受到較多的客觀性因素所造成的影響,此種情況的出現(xiàn)更是直接與設(shè)備自身存在一定的相關(guān)性。眾所周知,在絕緣電阻的測(cè)試開展中,將電壓的數(shù)值為直流500V或者1000V情況下,也就是說該產(chǎn)品的測(cè)試是一個(gè)直流耐壓的測(cè)試,測(cè)試設(shè)備在此種
電壓的整體性測(cè)量情況,會(huì)出現(xiàn)電流的測(cè)量數(shù)值,之后經(jīng)由內(nèi)部線路完成電壓的計(jì)算,完成該電流數(shù)值的放大化顯示。最終通過利用歐姆定律:R=U/I,(U代表電壓數(shù)值、I代表電壓下漏掉電流)。通常情況下,根據(jù)絕緣電阻測(cè)試儀的相關(guān)測(cè)試經(jīng)驗(yàn),我們得知此種情況下的耐壓電流通過長(zhǎng)較小<1μA。
由上述的絕緣電阻測(cè)試儀具體運(yùn)行概論及原理,發(fā)現(xiàn)此種測(cè)試方法的相關(guān)運(yùn)行原理,是基本等同于電壓的耐壓測(cè)試原理的。只是此種測(cè)試原理是通過歐姆定律的關(guān)系完成表述的,耐壓測(cè)試可以完成被測(cè)試物體的絕緣性能描述,絕緣電阻測(cè)試儀則主要經(jīng)由測(cè)試所得的電阻值完成相應(yīng)的描述。
1.2絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)試方法
當(dāng)前開展絕緣電阻測(cè)試的過程中,任何一種絕緣電阻測(cè)試儀,其所具備的基礎(chǔ)性功能,都可以完成被測(cè)物體地泄漏電流的數(shù)值測(cè)試,一旦被測(cè)試物體出現(xiàn)地泄漏電流,那么就表明該物體出現(xiàn)了絕緣功能缺陷。對(duì)于被側(cè)量產(chǎn)品的耐壓測(cè)試,通常選用電路的測(cè)試,主要的測(cè)試原理是由于一旦電流過大,就會(huì)切斷電流的測(cè)試數(shù)值。那么被切斷的電流測(cè)試數(shù)值,發(fā)生超出電流數(shù)值的情況時(shí),就會(huì)導(dǎo)致耐壓測(cè)試的相關(guān)設(shè)備使用陷入了故障情況,從而將故障的出現(xiàn)情況完成顯示反饋。被測(cè)試物體如果存在絕緣故障,那么測(cè)試設(shè)備必然會(huì)切斷高壓輸出。
一般來講,還可以在具體的測(cè)試過程中,有效的針對(duì)泄漏的電流完成監(jiān)視。但是由于絕緣電阻測(cè)試儀的相關(guān)設(shè)計(jì)特點(diǎn),存在著較大的差異性,因此對(duì)于所漏電流的測(cè)試數(shù)值自然也存在一定的誤差。那么通常耐壓測(cè)試以及高壓測(cè)試,都選用測(cè)試回路接地方式以及浮動(dòng)回路方式完成測(cè)試。前者主要是高壓測(cè)試回路以及測(cè)試設(shè)備的接地點(diǎn)是共同點(diǎn),后者則是不同點(diǎn)。絕緣電阻測(cè)試儀在正常的使用過程中,通常測(cè)試方法的選擇更傾向于選后者。通過將所測(cè)試的物品電流回路以及接地屏蔽短路,來完成接地回路的電流測(cè)試。但是部分絕緣電阻測(cè)試儀的生產(chǎn)廠家,通常為了使得測(cè)試更加的簡(jiǎn)便,也會(huì)直接在儀器內(nèi)部設(shè)置短路,但是此種設(shè)置通常并沒有達(dá)到用戶的使用需求。
2測(cè)試回路接地形式
由于測(cè)試儀內(nèi)部的整體線圈達(dá)到了內(nèi)部聯(lián)機(jī)電容的耦合分布式存在,并且加之耐壓性測(cè)試設(shè)備的外殼,都會(huì)導(dǎo)致耐壓測(cè)試開展中,內(nèi)部泄漏電流的具體流動(dòng)路徑得以改變。電容是產(chǎn)生于任何電路中的,盡管只是簡(jiǎn)單的變壓器,設(shè)備的線圈以及鐵芯之間也是存在很大的電容。雖然由于內(nèi)部電容的存在,會(huì)導(dǎo)致電流出現(xiàn)一定的電阻,但是同時(shí)也會(huì)允許部分電流能夠通過,那么通過的電流就是此種方式所需要測(cè)試的相應(yīng)電路數(shù)值。電路的電容直接決定了所泄漏的具體電流數(shù)值大小,以及電流頻率還有地泄漏電流,也就形成了供電系統(tǒng)中的對(duì)應(yīng)參照。絕大多數(shù)的耐壓測(cè)試儀設(shè)備要么屬于回路內(nèi)部的接地,或者屬于回路外部接地,因此形成了一種回路,使得電流表可以對(duì)耐壓測(cè)試器的內(nèi)部泄漏電流進(jìn)行監(jiān)視。
計(jì)量論文投稿刊物:《計(jì)量與測(cè)試技術(shù)》(月刊)創(chuàng)刊于1974年,由成都市計(jì)量監(jiān)督檢定測(cè)試所主辦。本刊本著實(shí)用第一、基層第一的辦刊宗旨,融計(jì)量技術(shù)、計(jì)量管理、計(jì)量與經(jīng)濟(jì)、計(jì)量與質(zhì)量和計(jì)量信息為一體的綜合性、通用性、實(shí)用性科技刊物。雜志的主要任務(wù)是宣傳國(guó)家對(duì)計(jì)量工作的方針政策;推廣計(jì)量管理的先進(jìn)經(jīng)驗(yàn);研討計(jì)量與經(jīng)濟(jì)、計(jì)量與質(zhì)量關(guān)系;介紹計(jì)量測(cè)試新技術(shù)、新儀器和新成果;報(bào)道國(guó)內(nèi)外計(jì)量、測(cè)試動(dòng)態(tài),普及計(jì)量基礎(chǔ)知識(shí)。
3浮動(dòng)回路形式
在使用浮動(dòng)回路方式來完成耐壓測(cè)試過程中,通?梢暂^為準(zhǔn)確的獲取漏電讀數(shù),最為性質(zhì)有效的方法,就是通過在使用絕緣電阻測(cè)試儀,完成浮動(dòng)回路式耐壓測(cè)試過程中,不是直接將回路接地,而是將被側(cè)量的物體放置在不接地絕緣表面,從而形成了正常絕緣電阻測(cè)試接地方式。
那么在如上所示的電路結(jié)構(gòu)情況下,對(duì)于電流的整體監(jiān)控,是需要經(jīng)由被側(cè)量物體的就具體回路導(dǎo)線以及接地之間,地漏電流就會(huì)經(jīng)過電流表,從而實(shí)現(xiàn)了對(duì)于被測(cè)試物體的地漏電流測(cè)試。而這一測(cè)試過程,與外部的電流表連接被側(cè)量物體,只有經(jīng)過被側(cè)量物體的泄漏電流才能被檢測(cè)得出是基本相似的,但是此種情況下的電阻值是無法檢測(cè)得出的。再者就是說此種電阻值要遠(yuǎn)超于儀器的測(cè)量范圍值。因此如果測(cè)試的回路以及接地屏蔽短路量完成數(shù)值的測(cè)出,也就是說再次返回于第一種電路,從而測(cè)量得出數(shù)值。也就如上述所說,通過使用浮動(dòng)回路方法的耐壓測(cè)試數(shù)值較為正常,但是所反映的數(shù)值也并不絕對(duì)真實(shí),它所測(cè)量反映的數(shù)值并不是被側(cè)量的物體真正絕緣電阻的真實(shí)大小。因此對(duì)于絕緣電阻的測(cè)試儀進(jìn)行回路的測(cè)試分析,其數(shù)值是否正確真實(shí)是測(cè)量方法的關(guān)鍵因素。
參考文獻(xiàn)
[1]袁開鴻,陳新喜,魏麗君.基于STM32的機(jī)車絕緣電阻測(cè)試儀的研究與設(shè)計(jì)[J].儀表技術(shù)與傳感器,2014(7):40-42.
[2]黃勁,HuangJin.絕緣電阻測(cè)試儀電路實(shí)現(xiàn)和測(cè)試結(jié)果對(duì)比[J].計(jì)量與測(cè)試技術(shù),2016,43(4):79-81.
[3]蔡啟仲,鄒光波.絕緣電阻測(cè)試儀高壓可控電源與量程切換電路設(shè)計(jì)[J].自動(dòng)化與儀器儀表,2012(1):98-99.
作者:李恒李萬寶劉新春
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