本文摘要:摘 要:為解決彈體跌落水中導(dǎo)致多通道彈載記錄儀損壞、數(shù)據(jù)丟失的問題,文中分析記錄儀浸水損壞的原因,根據(jù)導(dǎo)彈導(dǎo)航信息測試的實(shí)際需求,設(shè)計(jì)多通道彈載振動測試系統(tǒng)的防水結(jié)構(gòu)和防水電路。首先根據(jù) IPX7級外殼防護(hù)要求,計(jì)算并設(shè)計(jì)帶有 O 型密封圈旋蓋的機(jī)械外殼,可
摘 要:為解決彈體跌落水中導(dǎo)致多通道彈載記錄儀損壞、數(shù)據(jù)丟失的問題,文中分析記錄儀浸水損壞的原因,根據(jù)導(dǎo)彈導(dǎo)航信息測試的實(shí)際需求,設(shè)計(jì)多通道彈載振動測試系統(tǒng)的防水結(jié)構(gòu)和防水電路。首先根據(jù) IPX7級外殼防護(hù)要求,計(jì)算并設(shè)計(jì)帶有 O 型密封圈旋蓋的機(jī)械外殼,可保證在 23.24 MPa 的介質(zhì)沖擊下載荷不泄露;其次,為便于整體防水,改進(jìn)系統(tǒng)的工作模式,將數(shù)據(jù)擦除、數(shù)據(jù)讀取、電源開關(guān)控制的功能集成到一個(gè)接口。針對多通道振動測試系統(tǒng)需要外接傳感器電纜的特點(diǎn),從硬件設(shè)計(jì)入手加入電氣隔離和過流保護(hù)模塊。最后通過接插件浸水試驗(yàn)、5 m 水池跌落試驗(yàn)和浸泡試驗(yàn)進(jìn)行驗(yàn)證。結(jié)果表明,文中方法可為設(shè)計(jì)可靠的彈載記錄儀提供一定的參考。
關(guān)鍵詞:彈載記錄儀;多通道;震動測試系統(tǒng);密封結(jié)構(gòu);防水設(shè)計(jì);O 型橡膠圈密封;過流保護(hù);防水試驗(yàn)
引 言
炮射導(dǎo)彈的發(fā)展與彈體姿態(tài)、位置、速度等導(dǎo)航信息參數(shù)的精確測量息息相關(guān)[1]。記錄儀搭載于彈體內(nèi)部,實(shí)驗(yàn)時(shí)隨彈體升空并記錄彈道過程的各個(gè)參數(shù),彈體落至指定的回收區(qū)域,尋回并拆解彈體后取回彈載記錄儀,讀取并分析存于記錄儀內(nèi)部的多參數(shù)數(shù)據(jù)[2]。但實(shí)際試驗(yàn)過程中,試驗(yàn)彈常常難以精準(zhǔn)降落在小范圍區(qū)域,尤其是當(dāng)彈體選擇擦地回收時(shí),回收區(qū)域?qū)⒊杀稊?shù)擴(kuò)大。彈體跌落入河流或因降雨形成水溝的可能性無法避免。
入水時(shí)產(chǎn)生的沖擊載荷會導(dǎo)致外接傳感器電纜斷裂、水侵入記錄儀等意外發(fā)生,輕則導(dǎo)致儀器功能受損,重則損壞存儲芯片,導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失。因此,彈載振動測試系統(tǒng)的防水設(shè)計(jì)是系統(tǒng)設(shè)計(jì)中必不可少的環(huán)節(jié)。目前對電子設(shè)備的防水措施主要是做結(jié)構(gòu)防水,不同功能測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)差異較大,并且很難做到完全氣密。本文對記錄儀浸水損壞原理進(jìn)行了詳細(xì)分析,并根據(jù)分析結(jié)果對多路振動測試系統(tǒng)從機(jī)械結(jié)構(gòu)和硬件方面進(jìn)行了防水設(shè)計(jì)。
1 記錄儀浸水損壞原理分析
1.1 水體導(dǎo)電原理
物體中可以自由移動的帶電粒子定向移動形成電流,溶液中的導(dǎo)電能力即為電導(dǎo)率。純水中載流子為濃度極低的氫離子和氫氧根離子,其本身具有弱電解平衡。自然環(huán)境中河流與積水為含有多種離子混合的復(fù)雜水溶液。當(dāng)帶電元器件進(jìn)入溶液中,會產(chǎn)生極化效應(yīng)和電容效應(yīng),從而影響溶液的電導(dǎo)率。溶液中的離子會吸附在雙層電極的表面使其帶電,從而形成雙電層,電荷的分布情況與平板電容器類似[4]。
1.2 記錄儀浸水損壞原因分析
1)因工藝、散熱等問題,元器件難以做到完全氣密性封裝。當(dāng)潮氣進(jìn)入元器件內(nèi)部時(shí)往往會導(dǎo)致電路參數(shù)發(fā)生改變、短路、信號處理或傳輸線路出現(xiàn)斷路等現(xiàn)象,導(dǎo)致電路板發(fā)生故障。2)溶液接觸帶電器件,產(chǎn)生極化效應(yīng)使溶液導(dǎo)電,可能會使電路板出現(xiàn)電壓過大、電流過大、反向電流等異,F(xiàn)象,導(dǎo)致電容被擊穿、芯片過熱燒壞等損壞電路板。3)在溶液中電極兩端會發(fā)生氧化還原反應(yīng),在電極中的負(fù)極會析出金屬,可能會導(dǎo)致芯片引腳短路。4)在潮濕環(huán)境下外殼以及 PCB 板上金屬與空氣中的氧氣易發(fā)生氧化反應(yīng)。5)溶液中還可能發(fā)生置換反應(yīng),焊接點(diǎn)錫置換出銅,導(dǎo)致元器件脫離焊盤或者短路現(xiàn)象發(fā)生。
1.3系統(tǒng)總設(shè)計(jì)
通過上一節(jié)的分析,防水設(shè)計(jì)首先應(yīng)當(dāng)從外殼結(jié)構(gòu)入手,設(shè)計(jì)氣密性良好的外殼結(jié)構(gòu),從根源上盡可能杜絕電路板與水接觸的可能;其次改進(jìn)硬件電路設(shè)計(jì),使測試系統(tǒng)能夠在異常電流時(shí)自保護(hù),并且保證傳感器電纜斷裂不會損壞記錄儀。除此之外,應(yīng)當(dāng)考慮記錄儀抗沖擊、意外導(dǎo)致外殼破損、裝置小巧且使用便捷等問題。為方便振動測試系統(tǒng)多點(diǎn)采集,共設(shè)置 12 路采集信號,通過線纜可連接 4 個(gè)三軸加速度傳感器,在彈體的頭部、中部、尾部分別安裝一個(gè)傳感器,另留有一個(gè)備用電纜接口。
采集裝置主要由 FPGA 控制模塊、信號調(diào)理模塊、A/D 轉(zhuǎn)換模塊、智能電源管理模塊、FLASH 存儲模塊以及讀數(shù)口等組成。讀數(shù)口使用(J30J⁃9)九針口,讀數(shù)裝置設(shè)置觸發(fā)和讀數(shù)兩條電纜。通過讀數(shù)裝置可以對記錄儀進(jìn)行數(shù)據(jù)擦除、上電、數(shù)據(jù)讀取等多重操作。該系統(tǒng)通過讀數(shù)裝置提供觸發(fā)電頻進(jìn)行上電操作,使記錄儀進(jìn)入延時(shí)采樣狀態(tài),待一定時(shí)間后記錄儀進(jìn)入采樣狀態(tài)。傳感器輸出信號電氣隔離后經(jīng)調(diào)理模塊進(jìn)入 A/D轉(zhuǎn)換器,轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號并存儲于大容量 FLASH存儲芯片中。試驗(yàn)完成后由讀數(shù)裝置進(jìn)行數(shù)據(jù)回讀,通過電腦軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)分析與展示。
2 記錄儀防水結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
2.1 外殼設(shè)計(jì)外殼的結(jié)構(gòu)
防水是最直接有效的防水方式,根據(jù)實(shí)際使用情況設(shè)計(jì)外殼結(jié)構(gòu)。記錄儀整體結(jié)構(gòu)為正方體,主要分為三個(gè)部分:剛體外殼、外殼體旋蓋以及固定有電路和電池灌封體的金屬鋁內(nèi)殼。電路板讀數(shù)口使用螺絲固定于內(nèi)殼表面,傳感器電纜穿過內(nèi)殼,指示燈和充電口使用強(qiáng)力膠固定并涂抹硅膠做密封處理。將蜜蠟通過傳感器電纜開口處灌入內(nèi)殼。內(nèi)殼包裹一圈膠墊做緩振處理后將其塞入金屬外殼,再用硅膠灌滿空余空間。在記錄儀面板處放置絕緣膠墊,最后擰上具有 O 型橡膠圈的旋蓋。
當(dāng)一側(cè)介質(zhì)對橡膠圈擠壓時(shí),橡膠圈被迫移動至溝槽另一側(cè),由于橡膠本身高彈性和較大的壓力傳遞系數(shù)的原因,受到的介質(zhì)壓力越大,橡膠圈的形變程度越大,橡膠圈對密封面的傳遞壓力就越大。當(dāng)接觸面上的接觸壓力大于介質(zhì)壓力時(shí),形成自密封狀態(tài)。
3 防水電路設(shè)計(jì)
3.1 電氣隔離在振動測試系統(tǒng)中,為避免因傳感器外置接插件處受外界因素影響出現(xiàn)異常電流導(dǎo)致燒壞測試系統(tǒng),使用電氣隔離的方式避免傳感器輸出與采集系統(tǒng)建立電流流動路徑的同時(shí)保證信息的傳遞。如此可有效防止因傳感器輸出電纜浸水導(dǎo)致的異常電流損壞下級電路。每個(gè)通道的輸出端都使用 INA⁃149 高共模電壓差動放大器實(shí)現(xiàn)電氣隔離的功能。INA⁃149 是一款最大增益誤差僅有 3 500 μV 的高精度單位增益放大器,±275 V的差分電壓工作范圍和 500 Hz 的帶寬足以滿足測試要求。
3.2 過流保護(hù)從浸水損壞原因分析中可以得知,短路引起電流過大導(dǎo)致電路板元器件燒壞是記錄儀損壞的常見問題,因此需要過流保護(hù)。過流保護(hù)是指當(dāng)電路中負(fù)載的實(shí)際電流超過額定值一定程度或一定時(shí)間時(shí),裝置能夠自行斷電來保護(hù)電路不受損壞的措施。在電子設(shè)備中常用的過流保護(hù)方法是在回路中加入保險(xiǎn)絲,當(dāng)電流過大時(shí)自動斷開?紤]到記錄儀需要灌封,不可以拆卸。
因此記錄儀選用自恢復(fù)保險(xiǎn)絲作為過流保護(hù)的保護(hù)元件。振動測試系統(tǒng)中負(fù)載電流主要來源于多個(gè)傳感器的額定工作電流。傳感器額定電流在設(shè)計(jì)階段可以預(yù)知且工作時(shí)電流相對恒定,在為傳感器供電的 DC/DC輸入引腳前放置自保護(hù)保險(xiǎn)絲預(yù)防電流過載,不僅在測試系統(tǒng)的前期設(shè)計(jì)階段方便選擇自恢復(fù)保險(xiǎn)絲的型號,而且由于測試系統(tǒng)是數(shù)模分離的,在模擬部分發(fā)生故障導(dǎo) 致 保 險(xiǎn) 絲 斷 路 時(shí) 不 會 影 響 數(shù) 字 部 分 。
3.3 其他防水措施
在充電口正極 VIN 與電池正極 BATVCC 相連的回路上放置二極管與電阻并聯(lián)的電路,可以有效防止因充電口短路燒毀記錄儀。除此之外在設(shè)計(jì) PCB 板時(shí)需要將穿孔與焊點(diǎn)保持一定距離。
4 防水試驗(yàn)
4.1 接插件浸水試驗(yàn)
由于河流中具體成分復(fù)雜,不同地域存在較大差異,因此配置一定濃度的水溶液代替浸水環(huán)境。配置當(dāng)量濃度為 0.001 N 的 NaCl水溶液,查詢蘭氏化學(xué)手冊得知其電導(dǎo)率為 106.5 S·cm2·equiv-1。實(shí)驗(yàn)步驟如下:1)將傳感器供電端電纜深入水溶液中,監(jiān)測電流變化,觀測到電流稍稍增大,遠(yuǎn)低于傳感器額定工作電流,不影響記錄儀正常工作。2)將傳感器供電端正極與傳感器數(shù)據(jù)傳輸電纜共同浸入水中,電流未發(fā)生明顯變化。3)將傳感器供電端正負(fù)極斷接,檢測到自恢復(fù)保險(xiǎn)絲進(jìn)入熔斷—恢復(fù)—熔斷的循環(huán)中,持續(xù) 1 h 后停止短接,重新檢查到記錄儀功能正常。
4.2 結(jié)構(gòu)防水試驗(yàn)
將記錄儀完全裝好后,分別于水池上方 1 m,3 m,5 m 處重復(fù)做多次跌落試驗(yàn);然后根據(jù)防護(hù)等級 IPX 7試驗(yàn)要求,將記錄儀置于 1 m 深的水池中浸泡 30 min。試驗(yàn)結(jié)束后,將記錄儀表面擦干,打開旋蓋后觀察到殼體內(nèi)保持干燥,無液體滲入。接上傳感器后重新測試,檢測記錄儀功能正常。
5 結(jié) 語
本文以試驗(yàn)時(shí)彈載記錄儀隨試驗(yàn)彈跌落水中,導(dǎo)致記錄儀損壞、數(shù)據(jù)丟失為背景,設(shè)計(jì)一個(gè)可防水的多通道彈載振動測試系統(tǒng)。針對多通道彈載振動記錄儀多接口以及多電纜需外置的特點(diǎn),設(shè)計(jì)了合理的防水機(jī)械結(jié)構(gòu),改進(jìn)了測試系統(tǒng)的硬件電路和工作模式,為設(shè)計(jì)可靠彈載測試系統(tǒng)提供了防水方案。
參 考 文 獻(xiàn):
[1] 魏曉凱,李杰,馮凱強(qiáng),等 .滾轉(zhuǎn)穩(wěn)定平臺抗高過載結(jié)構(gòu)優(yōu)化設(shè)計(jì)與分析[J].中國慣性技術(shù)學(xué)報(bào),2018,26(5):603⁃609.
[2] 王艷,郭靖,張會新,等 .彈載記錄儀存儲模塊防護(hù)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及優(yōu)化[J].兵器裝備工程學(xué)報(bào),2020,41(2):166⁃169.
[3] 劉歡 . 金屬鹽⁃有機(jī)溶劑⁃水體系電導(dǎo)率研究[D]. 大連:大連理工大學(xué),2017.
[4] 蔣偉華 . 基于 O 形橡膠圈密封的高壓容器設(shè)計(jì)和研究[D]. 杭州:浙江大學(xué),2006.
[5] CAEL H hamann,ANERAW hamnett,WOLF Vielstich. 電化學(xué)[M]//陳艷霞,夏興華,蔡俊,譯 . 北京:化學(xué)工業(yè)出版社,2010.
[6] 徐向東 . 基于電導(dǎo)法的原油含水率檢測系統(tǒng)的設(shè)計(jì)[D]. 哈爾濱:哈爾濱理工大學(xué),2020.
[7] 陳志,高鈺,董蓉,等 .機(jī)械密封橡膠 O 形圈密封性能的有限元分析[J].四川大學(xué)學(xué)報(bào)(工程科學(xué)版),2011,43(5):234⁃239.
[8] 張宏偉,張九根,施丹 . 基于 L4970A 芯片的直流電源設(shè)計(jì)[J].電子器件,2019,42(1):126⁃131.
作者:張嘉銘 1,2,杜紅棉 1,2,馬游春 1,2,裴 攀 1,2,徐秋瑾 1,2
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